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光学系统调整自动化——大幅缩短简化了切换光学系统所需的时间和程序,提高整体效率;
CBO技术具有高度灵活性——应用于所有粉末·多晶材料评价
样品位置自动调整,和In-Plane测试相结合——高分辨率的应力·选择取向测试简便化
CBO技术和无需変更系统的In-Plane扫描——实现最强的薄膜评价系统
新开发的In-situ——可以在特殊条件下测试
利用CBO和自动调整装置,仅添加附件即可对纳米材料小角散射测试
主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
理学组合型多功能水平X射线衍射仪Ultima Ⅳ,Ultima Ⅳ
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