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LA-S型植物根系分析仪系统用于对洗净的植物根系进行多参数快速分析 1、LA-S型植物根系分析仪系统可分析测量: 1)根总长; 2)根平均直径; 3)根总面积; 4)根总体积; 5)根尖计数; 6)分叉计数; 7)交叠计数; 8)根直径等级分布参数; 9)可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等,及其分布参数; 10)根尖段长分布; 11)能进行根系的颜色分析,确定出根系存活数量,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积; 12)能进行根系的拓扑分析,自动确定根的连接数、关系角等,可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等; 13)可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改); 14)大批量的全自动根系分析,可对各自动分析结果图进行编辑修正; 15)能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正,修正操作能回退,以快速获得100%正确的结果。精度:根长≤±1%;面积:优质图像质量时<1%,标准图像质量时≤3%; 16)匹配专门的双光源照明系统,提供高分辨率的彩色或黑白图像,去除了阴影和不均匀现象的影响,有效保证图像质量; 17)采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等,可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX标准格式的图像。 18)可兼做针叶面积、体积测量,以及棉纤维粗细、长度测量。 2、人工辅助修正:图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正。 3、统计效果监视:监视和修正植物对象分析的精度。 4、自动杂质剔除:根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除。 5、辅助测量功能: 尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正; 长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量; 6、数据导出 分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图 LA-S型植物根系分析仪系统标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪,zei大分析测量面积:反射稿为A4加长幅面(35.6 cm×21.6 cm),扫描根面积30 cm×20 cm,可分辨的zei小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度(由扫描仪决定,可软件部分校正):X向≤±0.5 %,Y向≤±0.25%;长度测量重现性误差<±0.25%;面积测量重现性误差<±0.25%;台间测量差异<±0.25%。测量总时间:30~60秒。用户需另配计算机。 若需大幅面分析,请选配:光学分辨率1600×3200dpi、A3的Microtek Phantom 9850XL plus扫描仪。 zei新产品资料、图像、实战操作视频可从http://www.wseen.com的网站下载。
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