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微区电化学阻抗测试系统LEIS370/470
应用:
* 薄膜阻抗复杂成像
* 池生长介质直接成像
* 光点化合反应特征化
* 电池
* 传感器
* 金属以及合金的钝化
* 燃料池
* 腐蚀
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