专为4D STEM设计的混合像素探测器 DECTRIS ARINA(DECTRIS)

采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱（EELS）提供了前所未有的速度，灵敏度和动态范围，是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流，同时记录高强度的零损峰和高损峰，并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果，特别适合电子束敏感材料的分析。得益于其无死区读出能力，您不仅不会在两帧图像之间丢失电子，确保能够收集样品所能提供的所有信息。与高分辨率光谱仪相结合，DECTR

采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱（EELS）提供了前所未有的速度，灵敏度和动态范围，是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流，同时记录高强度的零损峰和高损峰，并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果，特别适合电子束敏感材料的分析。得益于其无死区读出能力，您不仅不会在两帧图像之间丢失电子，确保能够收集样品所能提供的所有信息。与高分辨率光谱仪相结合，DECTR

DECTRIS SINGLA® 探测器是一款针对生命科学应用进行了优化的混合像素电子计数相机。它的敏感面积约为 1,000 x 1,000 像素，适用于冷冻电子显微镜 （cryoEM） 和微电子衍射 （microED） 应用。单颗粒分析和冷冻电子断层扫描的实验也从该探测器的速度中受益匪浅。此外，SINGLA探测器的快速读出速度（超过每秒2,000帧）加上其卓越的动态范围，使其成为小分子和3D微晶体学的理想探测器。该检测器安装在底部，与 JEOL 和 The

DECTRIS SINGLA® 探测器是一款针对生命科学应用进行了优化的混合像素电子计数相机。它的敏感面积约为 1,000 x 1,000 像素，适用于冷冻电子显微镜 （cryoEM） 和微电子衍射 （microED） 应用。单颗粒分析和冷冻电子断层扫描的实验也从该探测器的速度中受益匪浅。此外，SINGLA探测器的快速读出速度（超过每秒2,000帧）加上其卓越的动态范围，使其成为小分子和3D微晶体学的理想探测器。该检测器安装在底部，与 JEOL 和 The

新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能，不断突破电子探测的极限。同时，这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度，而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。

新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能，不断突破电子探测的极限。同时，这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度，而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。