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第一款结合电压和激光脉冲操作的三维原子探针
LEAP 6000 XR 继承了前几代 APT 的关键特性,在成熟的局部电极设计中增加了深紫外激光脉冲,以提供更高的产量和数据质量。通过与微尖阵列和重新设计的光学系统的兼容性,LEAP 6000 XR 提供了更高的易用性和全自动操作的潜力。
产品概述
CAMECA 的 LEAP 6000 XR 与微尖兼容,能够利用先进的自动化功能,为您的研究应用提供更大的产量和更高的灵敏度。它引入了一种新的工作模式,即同时向样本施加激光脉冲和电压脉冲。由于大部分光谱背景是由于持续电压引起的超时蒸发造成的,因此在整个实验过程中,背景明显较低。
深紫外激光波长可提高产量并实现更精确的重建
同步电压加激光脉冲 (VLP) 操作,灵敏度更高,更容易识别峰值
LEAP 自动化实现了非工作时间和无人值守的操作,可获得更快的投资回报
金属晶界分析(APT)
LEAP 5000和EIKOS原子探针为金属和合金晶界的纳米级化学分析和三维映射提供了独特的功能。
磁致伸缩材料界面分析(APT)
3D原子探针拥有独特的深度分辨率和高通量,可用于分析脆性材料,例如多层膜结构的界面。
相变分离过程的研究(APT)
凭借独特的空间分辨能力,CAMECA原子探针可用于研究储能材料的相分离过程。
掺杂物的原子尺度表征(APT)
原子探针断层分析术具备在更小的晶体管器件中映射掺杂物的空间分布和化学特性的独特能力。
含砷黄铁矿中的金团簇(APT)
LEAP原子探针能够在难熔矿物中找到微小的“不可见金”,例如含砷黄铁矿。
CAMECA LEAP 6000 XR三维原子探针,LEAP 6000 XR
CAMECA LEAP 6000 XR三维原子探针信息由CAMECA SAS为您提供,如您想了解更多关于CAMECA LEAP 6000 XR三维原子探针报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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JB/T 9352-1999 透射电子显微镜 试验方法
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T/CSTM 00162-2020 透射电子显微镜校准方法
JJG(地质) 1016-1990 透射电子显微镜检定规程
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JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则
ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
BS ISO 25498:2018 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
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JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则
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GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
北京科技大学
清华大学
河北工业大学材料学院
中国电子科技集团公司第四十六研究所
香港科技大学(广州)
江苏某单位
中国地质大学(武汉)
辽宁材料实验室
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