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目前，在未来能量转换和存储体系中，对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些薄膜具有多孔的材料特性，可以获得用于电子传递的高界面表面积。控制这些界面结构对这类体系性能是至关重要的。
自动完成日常测量工作，加快测量速度，是 SAXSpoint 5.0 实验室系统的标准性能。SAXSpoint 5.0 配备了 Stagemaster，它可以自动对准所有 X-射线成分和样品台，识别安装的样品台，并相应地配置系统。这为您的测量设置提供最佳的可能结果。使用 ASX 自动进样器，对液体样品，如分散液和生物样品，自动样品进出。ASX 自动进样器可配备最多 192 个样品，并针对敏感型样品提供冷却选件。
几乎所有种类的纳米结构材料都可以使用安东帕的各种样品台进行分析。使用 TrueFocus 可以轻松、快速地在不同的样品台之间切换，并可确保自动对准所有组件。受益于测量装置独有的灵活性。
温控台：在 -150°C 到 600 °C 范围进行控温研究。
湿度样品台：在规定的相对湿度和温度条件下进行分析
GISAXS/GIXD 样品台：在真空条件下或者与独特的 GISAXS 加热模块（高达 500℃）联用研究纳米结构表面和薄膜
加热/冷却进样器：利用温控进样器进行自动研究（多固相/糊状/液体样品或毛细管样品）
Tensile 样品台：在定义的机械载荷下，分析纳米结构纤维。定制样品台解决方案。
RheoSAXS 模块：一次性进行完整的流变和纳米结构研究
剪切台：高达 350 °C下的剪切实验
如果遇到特殊实验挑战，请与我们联系。可根据需求提供定制设计的样品台和样品槽。
功能强大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 软件解决方案支持自动执行常规步骤，如测量设置和调准，以及综合数据分析。设置连续测量，利用自动进样、温度扫描和时间相关研究，并使用可定制的模板分析获得的 1D 和 2D 数据集。确定回转半径 (RG)、粒径、Porod 常数、比表面积、Kratky 曲线等参数是 SAXSanalysis™ 的标准功能。对于高级结构解析 (PCG)，如粒径、粒径分布、形状和内部结构，可使用 IFT 和去卷积方法。
| X-射线源 |
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| X-射线光学元件和准直系统 |
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| 样品台和自动进样器 |
根据需求提供的定制样品台 |
| 特殊功能 | Slidemaster：移动探测器（X、Y、Z 转换） TrueFocus：自动调准直 TrueSWAXS：连续、同时 SWAXS 研究 Stagemaster：具有样品台自动识别功能的 XYZ 工作台 可选的高分辨率 WAXS 模块 可选的高性能光学元件，其 X-射线通量大于 4 x 10 8 ph/s 可选的 USAXS 模块 可选的集成小体积自动进样器 |
| 温度范围 | -150 °C 至 600 °C |
| 温度准确度 | ±0.1 °C |
| 环境 | 真空、空气、惰性气体、湿度（根据需求也可以是反应性气体） |
| 样品槽 |
根据需求提供的定制样品台 |
| 探测器 | 2D EIGER2 R 系列 (HPC) 探测器 高分辨率 WAXS 模块（EIGER2 R 系列） |
| 可达到的 q 范围 | 0.01 nm-1 to 49.3 nm-1 (主探测器) |
| 软件 |
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| 占地面积 |
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如需获取最新开发、选项和定制解决方案的更多信息，请直接与我们联系。
SAXSpoint 5.0 采用高光谱纯度和无散射光束准直的高亮度 X-射线束。配备强大的微焦斑光源或 MetalJet X-射线源和高性能光学元件，可在极短的曝光时间内提供出色的测量结果。结合最新的混合光子计数 (HPC) 探测器，可确保获得高质量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 结果，以实现纳米结构材料分析。通过这种出色的设置，可以实现极好的分辨率，并以同类产品中最紧凑的系统尺寸解析高达 620 nm 的结构。
SAXSpoint 5.0 具有移动探测器 Slidemaster，可在非常宽的 q 范围内进行全自动 X-射线散射研究。因此，您可以一次性获得 SAXS 和 WAXS 数据，无需重新调准系统。只需移动探测器，即可为每次实验选择最佳的 q 范围，从最高 SAXS 分辨率到宽的 WAXS 范围。
SAXSpoint 5.0 为您的测量提供自动光束遮挡器选择和定位。由于它集成了最新的 EIGER2 R 探测器，因此可以进行无窗和无光束遮挡测量。
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