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使用 Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪 对纳米材料进行单颗粒分析
发布时间：
2014-10-21 21:22
来源：安捷伦科技（中国）有限公司
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|---|---|
使用7900ICP-MS对纳米材料进行单颗粒分析.pdf |
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检测样品：纳米材料
检测项目：单颗粒分析
方案优势
在本文中，我们使用 Agilent 7900 ICP-MS 测定单个NP 峰信号并对其性能进行了评估。7900 ICP-MS 拥有全新的正交检测器系统，积分时间可快至 100 μs，TRA 读数之间无需稳定时间，而且 TRA 模式的整体采集速度比 7700x快 30 倍，可实现瞬时信号的快速测量。
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