JEM-2100F200kV场发射透射电子显微镜

仪器简介：
JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。

利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。

JEM-2100Fzei新设计的侧插式侧角台，在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。

SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。



技术参数：
1.点分辨率：0.19nm
2.线分辨率：0.14nm
3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm


主要特点：
1.高亮度场发射电子枪。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式侧插测角台，更容易倾转、旋转、加热和冷冻，无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便。
5.微处理器和PC两套系统控制，防止死机。

JEM-2100F200kV场发射透射电子显微镜信息由Diachrom Biotechnologie GmBH为您提供，如您想了解更多关于JEM-2100F200kV场发射透射电子显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途