CAMECA SAS
400-6699-117转1000
热门搜索：
认证会员
诚信认证:
工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
CAMECA SIMS介绍TIME:2023-02-10
IMS介绍当固体样品被几keV能量的一次离子溅射时，从靶发射出来的一部分颗粒被电离。二次离子质谱法是使用质谱仪分析这些二次离子。离子轰击下固体表面的二次离子发射......[全文]
- 1CAMECA EPMA介绍2022-02-24
- 2CAMECA 推出 Invizo 6000 和 LEAP 6000 XR 原子探针2021-12-06
- 3CAMECA APT原子探针断层分析术介绍2021-02-26
- 4Cameca启动SKAPHIA屏蔽电子探针计划2016-10-04
