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光学薄膜研究利器-日立紫外可见近红外分光光度计

发布时间: 2016-05-18 00:00 来源:日立高新技术公司

    第12届上海国际高功能薄膜展会于5月17日在上海国家会展中心盛大召开,本届展会吸引了约600家薄膜相关行业的生产商和供应商。

  对于光学薄膜等相关行业用户来说,必须借助紫外-可见-近红外分光光度计进行光学性能分析。

  日立高新技术作为全球高端紫外-可见-近红外分光光度计生产商,参与了此次会议并,向与会者介绍了日立UH4150型分光光度计为光学薄膜研究者和生产者所能提供的专业解决方案,受到了与会用户的关注与一致好评。

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  日立UH4150是一款专业级别的分光光度计,对象定位于向各类光学样品。具有噪音低、准确性好、重现性高、检测器切换差异小、附件种类丰富等特点,能为客户提供完善的解决方案。

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关于日立紫外/可见/近红外分光光度计UH4150,请点击链接:

http://ibook.antpedia.com/762/p/65068-p.html

关于日立高新技术公司:

日立高新技术公司,于2013年1月,融合了X射线和热分析等核心技术,成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术,精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新,因此公司变为日立高新的子公司,同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学,扩大了科学计测仪器领域 的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料,产品线更丰富的日立高新技术集团,将继续引领科学领域 的核心技术。

更多信息敬请关注:http://ibook.antpedia.com/762/

标签:光学薄膜 日立 紫外可见近红外 分光光度计
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