MicroNano AFM-II型原子力显微镜（包含STM、AFM接触/非接触模式）
简介
这款机型集STM、AFM（接触/非接触模式）于一体。具有STM恒流模式/恒高模式形貌检测， I-V曲线测量， I-Z曲线测量，针尖修饰功能。AFM接触/非接触模式形貌检测功能，划移扫描，F-Z曲线测量功能。并使用了智能针尖连接专利技术，使各种工作模式之间的转换只需替换相应的针尖架，不必替换整个探头，软件能够自动识别当前针尖类型，并自动切换到相应的工作模式。操作非常方便。
用户还能根据不同的科研要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台，使操作更加方便、精确。
同我们所有MicroNano 系列产品一样，这款机型还可以根据用户需要，选购相应的功能模块，将功能扩展至原子力显微镜轻敲模式、磁力显微镜模式。

产品技术指标
扫描模式：STM恒流/恒高模式扫描/ I-V曲线测量/I-Z曲线测量/针尖修饰（脉冲）
AFM接触/非接触模式形貌/划移扫描，F-Z曲线
样品尺寸：≤Φ10mm
样品厚度：≤5mm
扫描范围：标准配置6μm×6μm
分辨率：S TM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
AFM（X-Y向0.3nm；Z向0.03nm）
XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位精度）
数据采样：双12-bit A/D （相当于20位精度）
zei大扫描速率：20000 P/S
扫描角度：0~360°
图像采样点：256×256 / 512×512
马达控制：线动螺纹+自动马达，行程

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途