压力与接触程度的变化对ATR光谱质量的影响

近年来，ATR（衰减全反射）技术已经逐渐成为红外光谱测试的常用方法。采样晶体与样品的接触程度对光谱的影响问题一度使该技术仅适用于液体和较软的固体，而现在使用小尺寸晶体的采样附件极大地减弱了这一影响，同时金刚石晶体的硬度和化学惰性也使得ATR技术成为一种近于万能的采样方法。然而，要使固体样品与ATR晶体良好地接触，需要施加一定的压力。压力的增加会改变不同波长处谱带的相对强度，也可能会导致样品结构的改变。本文阐明和解释了上述可能发生的影响。