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在线测厚仪
便携式探头
测量曲面样品或样品无法移动时,需要用到特殊的探头,这些探头包裹一层柔性橡胶,可以直接放到样品上面,用光纤将其与主机相连。基于不同的应用,有三个型号可选。MP-F......
MAI显微镜适配器
MAI显微镜适配器,可与任何一台正置显微联用,将MProble系列薄膜测厚仪加到显微镜上,用于微小样品的厚度测量,包含一个200万像素CCD,可对测量区域进行成......
显微反射膜厚仪MProbe
产品概述       MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(......
Map薄膜厚度测绘仪
Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:......
EC-770F
EC-770F涂层测厚仪,能测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等)。本仪表内置高精密探头,利用电磁感应原理,计算涂镀层厚度,并通过点......
EC-770N
EC-770N涂层测厚仪,能测量非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密探头,利用涡流效应,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。C......
MProbe
采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪,可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测......
MProbe
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InG......
MProbe
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅)......
MProbe
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体......
EC-770
EC-770涂层测厚仪,能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高......
MProbe系列薄膜测厚仪
当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。反射光谱干......
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
简易涂层测厚仪Surfix® 简易系列的测量探头均由硬质合金制成,这意味着它具有几乎无限的使用寿命。前端塑料帽 设计有一个V型槽,因此其能够稳定且垂直地定位在水......
涂层测厚仪SURFIX®系列
用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀以及阳氧化涂层的快速测量操作和应用范围:我们的测量仪器Surfix® Pro S 系列产品可lian接不同种类的探头, ......
涂层测厚仪SURFIX®X系列
先进的测量仪器: 彩屏, PC 连接,易操作,以及适合PHYNIX探头新特点:· 彩色显示屏·  USB 接口·  数据存储·  ......
便携式涂层测厚仪PAINTCHECK
PaintCheck可以快速、无损并准确地测量钢、铁、铝和其它有色金属的涂层厚度。适用范围:       PaintCh......
涂层测厚仪
仪器:                      ......
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