布鲁克Dimension FastScan AFM亮相中国

布鲁克公司原子力显微镜技术及用户研讨会在京举行

　　2011年9月8日，布鲁克(Bruker)公司原子力显微镜技术及用户研讨会在国家会议中心与“China Nano 2011”同期举行，来自全国各地的100多位专家学者出席了此次会议，共同参观体验了布鲁克Dimension FastScan^TM AFM(原子力显微镜)新产品。

工程师现场演示                                  用户参观体验

布鲁克Dimension FastScan^TM AFM参展China Nano 2011

　　Dimension FastScan^TM AFM是布鲁克公司最新发布的一款具有创新性和独特外形的原子力显微镜产品，拥有38项专利技术，将扫描速度、图像分辨率、精确度和噪音控制完美结合，在不损失Dimension^® Icon^®超高分辨率和卓越仪器性能的前提下，最大限度的提高了成像速度，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

会议现场

布鲁克公司中国区销售经理邹海涛先生致欢迎词

　　邹海涛先生在致词中介绍到，布鲁克公司旗下拥布鲁克AXS、布鲁克拜厄斯宾(Bruker Biospin)、布鲁克光谱仪器(Bruker Optics)、布鲁克·道尔顿(Bruker Daltonics)、布鲁克纳米技术(Bruker Nano)五大集团。其中，布鲁克纳米仪器部的前身是原Veeco公司纳米测试仪器部，在原子力显微镜领域始终处于领先地位，现在中国已经拥有1000多位仪器用户。布鲁克公司现在中国已设有北京和上海2个分支机构，并分别建立了Demo实验室。目前布鲁克正在北京筹建中国CCC(Customer Care Center)中心，预计将在2011年年底建成，届时该中心将会拥有10台用于培训及服务支持的仪器，并由布鲁克公司服务工程师孙昊博士负责。

布鲁克公司美国总部工程与测试资深经理黄林博士

报告主题：布鲁克公司扫描探针显微镜检测技术的最新进展

　　黄林博士说到，如何在不牺牲纳米级分辨率的前提下提高扫描探针显微镜的成像速度一直是AFM用户想要实现的愿望，也是布鲁克在原子力显微镜技术上的努力方向之一。今天布鲁克公司推出的Dimension FastScan^TM快速扫描系统，就可以在不降低分辨力、不增加设备复杂性、不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。同时，黄林博士在会上还展示了这款新品丰富的应用视频资料，使得听会者纷纷对Dimension FastScan^TM AFM的超快扫描速度和超高图像分辨率发出惊叹之声。

布鲁克公司纳米表面仪器部亚太区应用经理孙万新博士

报告主题：纳米空间尺度上材料物化性质的高分辨定量测量

　　孙万新博士首先介绍到，原子力显微镜可以测量材料物理性质、力学性能、磁学性能、热学性能、电学性能等方面的一些特征信息，但在获得样品定量数据时却一直面临着很大挑战。根据这种现状，孙万新博士重点介绍了布鲁克公司的MultiMode 8 ScanAsyst HR(高速)与PFTUNA(Peak Force Tapping Tunneling)这两款原子力显微镜的性能特点与技术优势。最后，孙万新博士在报告中重点强调了如何通过AFM图像获得样品的定量表征信息，并向听会者介绍了原子力显微镜与拉曼光谱在联用方面的一些最新动态。

北京大学李彦教授

报告主题：基于AFM技术的纳米结构原位构筑和表征

　　李彦教授表示，AFM可以使用纳米尺度的探针，并具备对探针在表面上的移动进行精确控制的特点，据此可以使用AFM在表面上可控制备出各种无机功能纳米结构，这种扫描探针刻蚀技术是由美国西北大学Mirkin等人于1999年提出的，被称为AFM蘸笔刻蚀技术。随着纳米科技的发展，各种纳米器件的构筑逐渐成为研究的重点，而利用蘸笔刻蚀技术在表面上制备各种功能无机纳米材料组成的结构也成为了大家非常感兴趣的课题。目前，李彦教授带领的团队已在AFM构筑和表征无机纳米材料结构方面卓有建树，并与国际多个知名院校建立了合作关系。

颁奖典礼现场

　　此外，会议的另一个环节是布鲁克公司第一届Nano奖学金颁奖典礼，共有10位来自全国各地知名院校的纳米相关专业的研究生或博士生获奖，布鲁克公司纳米表面仪器部亚太区销售总监时晓明先生以及邹海涛先生、黄林博士为获奖学生颁奖并合影。据了解，由于中国近年来在纳米科研与应用领域的飞速发展有目共睹，因此布鲁克公司将第一届Nano奖学金设立在中国，以奖励那些在纳米科学与技术相关领域贡献青春年华的年轻学者，并希望获奖学生能够以此为荣，再接再厉，为纳米科技的发展继续添砖加瓦!

获奖者名单