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能量色散X射线荧光分析贵金属中主量次量及有害元素

发布时间: 2014-08-12 14:46 来源: 岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司


  目前贵金属无损检测的国家标准依据为GB/T 18043-2008《首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》,提出了贵金属含量使用X射线荧光分析的无损检测方法,比较化学测试方法,X射线荧光分析方法的优点是:无损、快速、相对准确,环保、适用性好。GB11887-2008《首饰 贵金属纯度的规定及命名方法》规定Pb、Hg、Cd、As、Cr6+要求小于0.1%,同时提到与人体皮肤接触的首饰有Ni释放量限制的要求等。本文介绍岛津EDX能量色散X射线荧光光谱仪对贵金属中主量、次量、有害元素的分析检测。

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