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岛津应用:光学元件上微小异物的测定

发布时间: 2017-02-07 09:54 来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

随着电气电子设备的小型化和多功能化,仪器的零部件也不断微型化,因此超小型高性能的半导体零部件和传感器等光学元件被广泛应用。在微型化设备和零部件中,微米级的微小异物可能会导致仪器发生运行故障。因此为了防止此类问题的发生,查明异物来源极其重要。

岛津公司的异物自动分析系统(红外显微镜)AIM-9000 采用将微小部分作为测定目标的光学设计,可以在短时间内获得微米级异物的清晰光谱。本文向您介绍使用本系统对光学元件表面附着的约10μm微小异物进行测定的示例。

岛津异物自动分析系统(IRTracer-100 和红外显微镜AIM-9000

了解详情,敬请点击《光学元件上微小异物的测定采用红外显微镜AIM-9000 进行扫描和识别



关于岛津

    岛津企业管理(中国)有限公司是(株)岛津制作所于1999年100%出资,在中国设立的现地法人公司,在中国全境拥有13个分公司,事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心,并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站,已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念,始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务,为中国社会的进步贡献力量。

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标签:岛津 光学元件 红外显微镜 AIM-9000 IRTracer-100
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