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场发射电子探针JXA-8530F Plus终于撩开面纱

发布时间: 2017-01-05 10:45 来源:日本电子株式会社(JEOL)

场发射电子探针是日本电子株式会社应对全世界研究者对材料研发和分析的需求而发明出来的一款非常实用的实验仪器。自发明以来,在全世界已拥有数百家用户,广受好评。

随着技术进步和用户对仪器本身期望不断提升,日本电子也在不断改进和提升场发射探针的水平。201716日,经过近半年多的酝酿,日本电子株式会社终于在新年伊始正式发布第三代电子探针JXA-8530F Plus

JXA-8530F Plus秉承并发展了日本电子传统电子光学系统的优势,进一步减小了大束流下的束斑尺寸,提高了分辨率,同时通过各种软件使得操作和分析更加方便,扩展性更好。

可扩展附件:

1.  一体化能谱仪:可以与波谱仪在同一个工作条件下同时测量,更好的提高分析效率;

2.  EBSD:在获得准确成分定量的同时,获得结构信息,真正实现形貌、成份、结构三位一体;

3.  X射线谱仪:采用日本电子株式会社最新发明的软X-射线谱仪,获得超轻元素的微区成分信息和微区化学状态的变化;

4.  阴极发光探头:对于半导体材料和地质材料分析具有很大帮助;

5.  空气隔离交换系统:对于锂电池等空气敏感的材料,可以从使得制备好的样品在空气隔离环境下进入探针样品室进行观察。

6.  光电一体化软件:Mixcroscopy 软件实现了光镜与电镜的无缝对接。

  

   详细信息请咨询日本电子株式会社在中国的子公司捷欧路(北京)科贸有限公司在各地的分部。

标签:场发射电子探针
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