S/TEM球差过滤一体化透射电镜JEM-ARM200F横空出世

　　日本电子株式会社去年11月份初在第九届亚太电镜大会上发布了最新一代球差过滤一体化透射电镜JEM-ARM200F。它的加速电压为200kV，分辨率可达0.08nm，搭载一体化STEM球差过滤器，还可以加装TEM球差过滤器，操作简单，是目前为止分辨率最高的商业化透射电子显微镜。透射电子显微镜是材料科学领域最重要的研究工具之一，透射电镜使用的是磁透镜，而球差一直被喻为透射电镜的“天敌”，解决球差问题就可以大大提高透射电镜的分辨率并能大大增强对材料的综合分析能力。球差过滤透射电镜是目前世界上最先端的透射电镜，分为STEM球差过滤器和TEM球差过滤器两种，其中STEM球差过滤器在可以提高STEM分辨率的同时，进行原子级的成分分析。TEM球差过滤器则可大大提高TEM图像的分辨率。日本电子株式会社近年来在球差过滤透射电镜方面的研究，始终在走在世界的最前面，获得了大量的可靠数据。JEM-ARM200F的出现，必将为材料科学和电子显微学的发展起到更大的推进作用。JEM-ARM200F2009年4月全球开始接受订单，详情请咨询日本电子株式会社各地办事处。