相聚北京 BCEIA，天瑞展台看点预告

发布时间： 2011-10-10 14:23 来源：江苏天瑞仪器股份有限公司

由中国分析测试协会主办的第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)将于10月12-15日在北京展览馆开幕。BCEIA是国内分析测试行业享有较高声誉业内重要展会。

作为国内分析仪器研发、生产、销售、服务重要厂商，天瑞仪器将携多款产品亮相，并带来更多精彩内容。

新品预推、现场问答

2011年，天瑞新品研发成绩显著：SUPER XRF 2400 X荧光光谱仪、Genius XRF系列、WAOL 2000-Cr6+水质在线分析仪-六价铬、MIR3043P便携式翡翠鉴定仪等新品陆续在2011上半年面市。

本次展会现场将演示Genius 9000 XRF手持式土壤重金属分析仪、Genius 5000 XRF手持式合金分析仪、SUPER XRF 2400 X荧光光谱仪、EDX 6000B X荧光光谱仪等多款仪器。

此外，展会现场还将预推天瑞2012年新品，更多惊喜、敬请期待！

专家讲座、技术交流

12日上午10:00-12:00，在北京展览馆2号会议厅，围绕“重金属检测”、“合金分析”两大行业热点，开展精彩的技术讲座。主讲人分别为：

姚栋梁博士：清华大学核物理学博士，数十年XRF研究经验，应用方法研究中心主任；

吴升海博士：光谱学海归博士，丰富的光谱仪器研发经验，研发部副部长。

专家报告、聚焦热点、技术交锋，精彩不容错过！

论坛照片分享、赢精美礼品

我们将借助媒体的“天瑞论坛”，及时播报“BCEIA之天瑞精彩视点”，以使更多不方便参加BCEIA网友，也能及时了解展会动态、感受展会盛况。

同时，“天瑞论坛”设置了“分享照片、赢精美奖品”互动活动，只要您在展会现场与展台、礼品、产品或工作人员合影，并上传照片至“天瑞论坛”，即可获得我们寄送的精美礼品。

现场礼品领不停

本次展会现场我们将派精美小礼品。更提供可口饮品，贴心服务每位客户。

下载并且打印的DM宣传页同样可换赠礼品。

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